logo
Nhà Sản phẩmThiết bị kiểm tra không phá hủy

FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV

Sản phẩm tốt nhất
Chứng nhận
Trung Quốc HUATEC  GROUP  CORPORATION Chứng chỉ
Trung Quốc HUATEC  GROUP  CORPORATION Chứng chỉ
Khách hàng đánh giá
nhiều sản phẩm NDT, chúng tôi có thể nhận được tất cả trong nhóm huatec. Chúng tôi muốn mua từ họ. Rudolf Shteinman Nga

—— Rudolf Shteinman

Tôi thích dịch vụ, đáp ứng rất nhanh, làm việc chuyên nghiệp. Aret Thổ Nhĩ Kỳ

—— Aret Kaya

Máy đo độ cứng huatec, chất lượng rất tốt, chúng tôi rất hài lòng với máy kiểm tra độ cứng cầm tay RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Châu Phi

—— Kumaren Govender

Tôi trò chuyện trực tuyến bây giờ

FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV

FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV
FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV

Hình ảnh lớn :  FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV

Thông tin chi tiết sản phẩm:
Nguồn gốc: Trung Quốc
Hàng hiệu: HUATEC
Chứng nhận: ISO, CE, GOST
Số mô hình: FJ-1200
Thanh toán:
Số lượng đặt hàng tối thiểu: 1 cái

FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường với phạm vi 0,01 ~ 200 μSv / h NaI ((Tl) Crystal Detector và phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3MeV

Sự miêu tả
Phạm vi đo: 0,01 ~ 200 µSv/h
Làm nổi bật:

Máy đo bức xạ môi trường 0

,

01 ~ 200 µSv/h

,

Máy dò bức xạ tinh thể NaI(Tl)

FJ-1200 Máy đo bức xạ môi trường
Tổng quan sản phẩm

Máy đo bức xạ môi trường FJ-1200 được thiết kế để đo chính xác và nhanh chóng bức xạ môi trường và bức xạ gamma cấp thấp.Sử dụng một máy dò i-ốt natri và có vỏ dụng cụ di động, thiết bị này là lý tưởng cho các ứng dụng đo bức xạ trong các nhà máy điện hạt nhân, cơ sở hạt nhân, bảo vệ môi trường và các lĩnh vực liên quan.

Các đặc điểm chính
  • đo tia X và tia gamma với độ nhạy cao bằng cách sử dụng phần tử phát hiện tinh thể NaI ((TI)
  • Màn hình giao diện LCD ma trận điểm đồ họa với đèn nền để hiển thị rõ ràng
  • Chìa khóa chuyển đổi màng để dễ dàng vận hành và bền
  • Mức ngưỡng báo động có thể điều chỉnh liên tục để theo dõi tùy chỉnh
  • Nhân tố quy mô có thể cấu hình để hiệu chuẩn và điều chỉnh đo lường của người dùng
  • Thời gian thiết lập nhanh với cập nhật hiển thị một lần mỗi giây
  • Hệ thống báo động toàn diện bao gồm báo động quá ngưỡng, dưới điện áp, quá tải, lỗi thăm dò và lỗi điện áp cao
Thông số kỹ thuật
Loại bức xạ X, γ
Máy phát hiện Φ50 × 40 mm, NaI ((Tl) Crystal
Phạm vi đo 0.01 ~ 200 μSv/h
Phạm vi hiển thị 0.001 ~ 200.000 μSv/h
Thời gian phản ứng < 3 giây
Độ chính xác ± 10% (200 μSv/h, 137Cs)
Phản ứng năng lượng 40 keV ~ 3 MeV
Chức năng báo động Cảnh báo vượt ngưỡng, dưới điện áp, quá tải, lỗi thăm dò, lỗi điện áp cao
Hiệu suất nhiệt độ < ± 10%, từ -10 °C đến + 50 °C
Hiệu suất độ ẩm < ± 10%, 95% RH (35°C)
Cung cấp điện 4 pin AA, 1,5V / 1Ah
Thời gian làm việc 50 giờ hoạt động liên tục
Xếp hạng bảo vệ IP64
Kích thước 280 × 200 × 120 mm (L × W × H)
Trọng lượng < 1200g

Chi tiết liên lạc
HUATEC GROUP CORPORATION

Người liên hệ: Ms. Shifen Yuan

Tel: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Gửi yêu cầu thông tin của bạn trực tiếp cho chúng tôi (0 / 3000)